Back Atoomkragmikroskopie Afrikaans Rasterkraftmikroskop ALS مجهر القوة الذرية Arabic Атомно-силов микроскоп Bulgarian Mikroskopija atomskih sila BS Microscopi de forces atòmiques Catalan Mikroskopie atomárních sil Czech Atomar kraftmikroskopi Danish Rasterkraftmikroskop German Μικροσκοπία ατομικής δύναμης Greek
Questa voce o sezione sull'argomento scienza non cita le fonti necessarie o quelle presenti sono insufficienti.
Il microscopio a forza atomica (spesso abbreviato in AFM, dall'inglese atomic force microscope) è un microscopio a scansione di sonda (SPM) inventato da Gerd Binnig, Calvin Quate e Christoph Gerber nel 1986.[1]
Oltre a essere utilizzato come mezzo d'indagine, è anche uno dei principali strumenti di manipolazione della materia su scala nanometrica.
- ^ G. Binnig, Atomic Force Microscope, in Physical Review Letters, vol. 56, n. 9, 1º gennaio 1986, pp. 930-933, DOI:10.1103/PhysRevLett.56.930. URL consultato il 14 febbraio 2017.